ヨコオがSWTest2025で初のBest Poster Presentation賞を受賞

ヨコオがSWTest2025で栄誉の受賞を果たす

株式会社ヨコオ（本社：東京都千代田区）が、米国カリフォルニア州カールスバッドで開催されたSWTest2025において、初めて「Best Poster Presentation賞」を受賞したことが発表されました。この国際会議は、半導体ウエハー及びダイレベルのテスト技術に特化した唯一の専門国際会議であり、技術の最前線を知る貴重な機会となっています。

SWTestとは？

SWTest（Semiconductor Wafer Test Conference）は、1990年代から毎年開催されており、最新のプローブカードや関連設備を提供する企業が一堂に会し、業界の最前線で議論を交わす重要な場です。今年の開催は、6月1日から4日の間に行われ、技術者や研究者が集結しました。

ヨコオの革新技術

この度の受賞は、ヨコオの新たな技術である光電融合プローブカードが評価されたことを示しています。このプローブカードは、従来の技術を進化させ、多チャンネルの光ファイバーアレイを搭載しており、ウエハーレベルでのシリコンフォトニクスチップの検査を実現します。これにより、信号伝送の高速化と低消費電力化が可能となり、現代の社会で求められるデジタルデータ処理のニーズに応えることができます。

未来を見据えた技術開発

ヨコオは、これまで培ってきた技術力を基に、持続可能な社会の実現に向けたさらなる技術開発を進めていくとしています。AI技術の進化に伴い、半導体産業においても新たな信号処理技術が求められているため、今後の展開が非常に楽しみです。具体的には、光信号処理技術の応用を強化することで、未来の電気通信技術に大きな影響を与えると期待されています。